Agilent Medalist i3070

Agilent Medalist i3070  5 系統(tǒng)不僅提供在線測(cè)試能力而且還具有其他測(cè)試功能，可對(duì) PCBA 進(jìn)行*廣泛的測(cè)試，因而能夠滿足大多數(shù)主流電子產(chǎn)品制造商的需求。對(duì)于那些需要更少節(jié)點(diǎn)測(cè)試功能的客戶來(lái)說(shuō)，i3070 雙模塊選件是理想的選擇。

所有Agilent Medalist i3070  系列 5 測(cè)試系統(tǒng)均加入了新的基礎(chǔ)架構(gòu)，以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設(shè)備或儀器。該系統(tǒng)允許將外部電子設(shè)備插入測(cè)試機(jī)臺(tái)，如同該設(shè)備已經(jīng)集成到系統(tǒng)中。外部電子設(shè)備可以是功能性測(cè)試電路，用于為 ICT 提供額外的功能測(cè)試范圍，或者為被測(cè)單元提供額外的激勵(lì)，以提高測(cè)試覆蓋率。外部電子設(shè)備控制、測(cè)試順序和測(cè)試結(jié)果仍通過(guò) BT-BASIC 測(cè)試程序來(lái)實(shí)現(xiàn)，由用戶熟悉的測(cè)試機(jī)臺(tái)的電腦實(shí)施。

為了支持增強(qiáng)的性能，PCBA 如今擁有更高的電流要求，因此可通過(guò)測(cè)試儀向被測(cè)單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經(jīng)過(guò)多路復(fù)用處理，所以一個(gè)電源可以*多向一個(gè)面板中不同的 6 個(gè)電路板供電，每個(gè)電源通道都由一個(gè)繼電器控制，以保護(hù)被測(cè)單元。

i3070 系列 5 測(cè)試系統(tǒng)包含了一個(gè)新的模擬激勵(lì)和測(cè)量單元（ASRU），可將模擬測(cè)試速度提高 20%，進(jìn)而提高產(chǎn)量。

此前版本中的受限接入測(cè)試工具也包含在該測(cè)試系統(tǒng)中。

如果您的大型電路板需要速度更快，測(cè)試覆蓋率更高的測(cè)試，那么，E9903E i307x 系列 5 系統(tǒng)將是*佳選擇。

所有 Agilent Medalist i3070  測(cè)試系統(tǒng)都支持多路復(fù)用（Mux）pin卡和非多路復(fù)用（UnMux）pin卡。這樣，在您使用該系統(tǒng)時(shí)就會(huì)有更多的靈活性。