i1000在線測試介紹

一、i1000在線測試系統(tǒng)

1.完整的在線測試系統(tǒng):

     （1）模擬測試

     （2）上電測試

     （3）數(shù)字測試

     （4）與MDA相似的用戶接口與夾具設(shè)計，方便使用，容易學(xué)習(xí).

2.全新抗干擾設(shè)計，使數(shù)字測試方便快速.

3.使用安捷倫*新的在線測試技術(shù)方案. 

二、安捷倫i1000系統(tǒng)的優(yōu)勢

優(yōu)勢1 : a，治具結(jié)構(gòu)簡單     b，系統(tǒng)維護(hù)容易

優(yōu)勢2 : 完整的測試涵蓋率

        VTEP v2.0       （無矢量測試）

         Digital Test    （數(shù)字測試）

         OBP             （在線燒錄）

         Bscan           （邊界掃描）

         Functional Test （功能測試）

         CET             （拓展測試）

優(yōu)勢3: 簡單易懂的用戶接口

PS:安捷倫i1000在線測試系統(tǒng) 提供完整的在線測試功能，擁有與一般MDA相似 的接口，可與常用的MDA夾具相容， 使用方便，學(xué)習(xí)快速.同時又可使用安捷倫在線測試的各項*新技術(shù)，是性價比極高的產(chǎn)線檢測設(shè)備。

三、 治具結(jié)構(gòu)簡單

1. i1000的壓床式治具與一般MDA所使用的壓床式治具兼容.

（1）治具的投資可以不用浪費(fèi)

（2）治具可以從很多家治具廠獲得

（3）人員的訓(xùn)練不用重來

2.i1000使用新的扁平電纜技術(shù)，在節(jié)省治具成本的同時可以提升數(shù)字測試的訊號質(zhì)量，達(dá)到與真空治具相當(dāng)?shù)慕Y(jié)果.

3.i1000的數(shù)字測試采用每信道可調(diào)的設(shè)計相較于傳統(tǒng)的  

  機(jī)臺制作治具與程序的時間大約可以節(jié)省半天至**.

四、系統(tǒng)維護(hù)方便容易

   單相電源即可啟動         系統(tǒng)可由前方開啟          無須真空磊浦

   拉拖式的系統(tǒng)架構(gòu)                     方便組裝維修

五、完整的測試涵蓋率

VTEP v2.0 （無矢量測試） Digital Test    （數(shù)字測試） OBP （在線燒錄）

Bscan     （邊界掃描）   Functional Test （功能測試） CET （覆蓋擴(kuò)展測試）

·詳述每通道可調(diào)(Per-Pin Programmable)的好處

（1）真正的1:1結(jié)構(gòu)設(shè)計能夠讓i1000連續(xù)不斷的監(jiān)控驅(qū)動邏輯。

（2）每一組驅(qū)動邏輯電位都有一個接收電位。

1.進(jìn)行數(shù)字測試的時候，需要知道芯片那些管腳是3.3V， 哪些5V，或者2.5V，1.1V等等。

2.每信道可調(diào)的數(shù)字測試系統(tǒng)，每個通道都可以被設(shè)定為任何邏輯準(zhǔn)位，所以只要把電壓與接地點(diǎn)找出來，其余點(diǎn)都可以任意改變，如此對于做治具與程序的時間大約可以節(jié)省半天至**。

3.每信道可調(diào)的數(shù)字測試系統(tǒng)還可以把任意的信道直接驅(qū)動為高電位(drive high)或者低電位(drive low)，以便于調(diào)試。

每通道可調(diào)(Per-Pin Programmable)每通道可調(diào)的好處–A節(jié)省系統(tǒng)成本，以其它廠商提供的數(shù)字測試卡來看 每片卡片支持64個通道 但只可設(shè)定兩種邏輯位準(zhǔn)。

問題：

如果有10個管腳須同時進(jìn)行數(shù)字測試, 但有 4組不同的邏輯位準(zhǔn)設(shè)定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數(shù)字測試卡有64組通道請問總共需要幾張數(shù)字測試卡 ?

如果不是每通道可調(diào) : 將需要兩張數(shù)字卡總共需用128個數(shù)字通道來滿足10個通道的測試

每通道可調(diào)的好處：i1000是**具有這項優(yōu)勢的壓床ICTi1000數(shù)字測試卡、提供 64組獨(dú)立可以調(diào)整的通道、64組準(zhǔn)位與頻率都可以獨(dú)立調(diào)整。

問題：

如果有10個管腳須同時進(jìn)行數(shù)字測試, 但有4組不同的邏輯訊號設(shè)定 – 3.3V, 1.5V, 1.05V, 2.0V.如果每一張數(shù)字測試卡有64組通道，請問總共需要幾張數(shù)字測試卡 ?

答案：只需要一張i1000數(shù)字測試卡–減少花費(fèi) –治具制作較為簡單

六、VTEP測試應(yīng)用

Agilent VTEP**技術(shù)的擴(kuò)展版本可以用于：

（1）超小型封裝

（2）倒裝芯片

（3）帶有*小或不帶引線框的器件

（4）以及裝有熱散器的器件

我們知道隨著PCBA上的器件封裝變得越來越小、越來越密集,電子制造商在檢測這些器件的信號針腳開路時,面臨的挑戰(zhàn)也與日俱增。另外,為使傳統(tǒng)程序庫適應(yīng)生產(chǎn)測試,制造商還必須面對程序接入問題和產(chǎn)品上市所需時間（time-to-market）的壓力。鑒于此,越來越多的制造商更加傾向于采用無矢量測試解決方案,以*有效的方式保持*大的覆蓋范圍。

七、在線燒錄OBP

1.提供在線燒錄OBP（支持SPI格式及I2c格式）  透過i1000的圖形用戶界面

可以輕易的進(jìn)行在線刻錄程序設(shè)定。

Connect A0 –A2 SDA SCL Function Address Inputs Serial Data Serial Clock Input I2C 介面使用 SDATA 及 SCLK 兩個輸入腳位，稱為 I2C Bus，所以支援 I2C 介面的 IC 必須提供這 2 個輸入腳位。SDATA 為串列資料的輸入腳位、SCLK 為資料輸入 的同步信號腳位。

八、在線燒錄概念

I2C IC ( EEPROM AT24C02) 由於是串列傳送資料，每一位元必須與 SCLK同步，以保證資料能正確地被接收。藉由 SDATA 與 SCLK 信號間的時序差異， SDATA 線上的信號可分為命令 (Command) 及資料 (Data) 兩類。 I2C 通訊協(xié)定基本上是由發(fā)送端傳送 START COMMAND 啟動,隨后為一連串的DATA，而在傳送每一筆DATA (BYTE或WORD)后，接收端須回應(yīng)一ACK信號以作確定。 *后發(fā)送端傳送STOP COMMAND作為結(jié)束 Start and Stop Definition SDA SCL 、START,STOP COMMAND與DATA的區(qū)別 Output Acknowledge SCL 1 8 9 DATA IN DATA OUT START 、接收端回應(yīng)ACK ACKNOWLEDGE MWIRE Serial EEPROM基本概念:MWIRE Serial EEPROM主要使用 Chip Select(CS)、Serial Clock(CLK)、Data In(DI)、 Data Out(DO) 四個腳位 ,EEPROM是以 93為編號開頭之IC，例如93C46、 93C66等

九、邊界掃描（Boundary-Scan） 

2.完整的邊界掃描測試(Bscan Test)與其他功能測試

  測試 BSCAN 測試的條件 :

（1）待測 IC 必須要支援 BSCAN 的測試 

（2）支援 BSCAN 測試的 IC 都會有一個由 IC 制造廠商所提供的對應(yīng)檔案 Boundary-Scan Description Language (BSDL)（IC的封裝語言描述）。

基本在線邊界掃描測試(In-circuit Bscan Connect Tests)

進(jìn)階邊界掃描測試互連測試(Advance Interconnect Bscan Test)

十、CET(Cover-Extend Technology)覆蓋擴(kuò)展測試技術(shù)

結(jié)合VTEP與邊界掃描的新技術(shù): CET

十一、覆蓋擴(kuò)展技術(shù)（CET）是如何進(jìn)行工作？

1.VTEP 傳感器位于被測元件（例如連接器）上，它能夠根據(jù)電容特性選取激勵信號。 

2.傳統(tǒng)的 VTEP 方法需要有測點(diǎn)（例如通過探針）來提供激勵信號。而覆蓋擴(kuò)展技術(shù)則是依靠邊界掃描器件來提供激勵信號。 

3.邊界掃描器件不需要每個引腳都放探針。 

4.根據(jù) IEEE 1149.x 標(biāo)準(zhǔn)（只使用測試接入端口），用戶可以向連接器提供必要的激勵信號。 

5.邊界掃描器件和 VTEP 傳感器之間的路徑缺陷（例如開路）將影響傳送到傳感器的激勵信號。 

6.ICT 系統(tǒng)對結(jié)果進(jìn)行捕獲和診斷，因此會檢測到缺陷。 

十二、覆蓋擴(kuò)展優(yōu)點(diǎn)（CET）

1.廣泛的測試范圍，不需要測點(diǎn) 

2.可節(jié)省夾具和 ICT 測試資源，降低測試成本 

3.通過降低應(yīng)力敏感型封裝（例如 BGA）上的應(yīng)力，提高電路板質(zhì)量 

十三、Library與3070共享VCL/PCF數(shù)字測試文件

Vector Control Language  向量控制語言（VCL).

Pattern Capture Format   模式捕獲格式(PCF).

是兩種3070用來描述digital library的語言.一般的數(shù)字測試需要使用預(yù)先設(shè)定好的數(shù)字測試文件(Digital LIB)以安捷倫3070所使用的PCF, VCL格式 編寫成的數(shù)字測試文件是目前世界上 數(shù)量*多的數(shù)字測試文件(累積超過20年)i1000可以直接使用這些文件

十四、i1000 操作界面_可選英文或中文

十五、i1000軟件: 程序發(fā)展及編輯界面

十六、好用的數(shù)字調(diào)適接口

十七、淺談產(chǎn)線常用的設(shè)備-MDA

MDA :常用的產(chǎn)線測試設(shè)備。主要用來發(fā)現(xiàn)在生產(chǎn)流程中所產(chǎn)生的錯誤，比如在不同組件點(diǎn) 因為焊錫** 產(chǎn)生無法預(yù)期的”開路”  或”短路”，或者是測試出 錯誤的被動組件 比如 電阻 電容 電桿等組件，如果加上HP/Agilent**的Test Jet技術(shù)MDA還可以用來測試IC，或連接器上的pin腳開路.但是MDA無法偵測出下面的幾種狀況即使板子可以通過MDA的檢測 不代表這塊板子可以順利上電啟動運(yùn)作 這主要是因為MDA不進(jìn)行上電測試.對于BGA芯片底下的數(shù)百個 甚至上千個的錫球 在經(jīng)過回焊爐后 是否與PC板焊接良好?目前MDA使用的Test Jet技術(shù)無法有效的測試BGA錫球的連接性對于覆晶BGA (Flip chip  BGA) Test Jet更是束手無策.

對于高密度的連接器Test Jet的測試效果也不佳.

十八、測試功能應(yīng)用

1.模擬測試（MDA）

開短路、電阻、電容、二極體、三極體、光耦元件、電容三端測試、保護(hù)二極體測試。

2.上電高壓量測

量測待測物各個狀態(tài)下的220AC工作輸出。

3.功能模擬遙控發(fā)碼測試

模擬遙控發(fā)碼IR給待測物、從而控制待測試物的工作狀態(tài)。

4.功能模擬溫度測試

模擬溫度給待測試、從而達(dá)到待測物的工作條件。

5.EEPROM 記憶測試

測試待測物在任何時刻停止當(dāng)前狀態(tài)、恢復(fù)后仍然是此工作狀態(tài)。

6.顯示器功能測試

測試待測物在各個顯示模式下的工作狀態(tài)及工作電壓。