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tescon-p70MB測(cè)試儀

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簡(jiǎn)單介紹
tescon-p70MB測(cè)試儀具有穩(wěn)定性好,性價(jià)比高等特點(diǎn),多年來(lái)得到廣大用戶的一致好評(píng)。該產(chǎn)品的標(biāo)準(zhǔn)配置為320通道,*多可擴(kuò)展至1024通道。有IC浮腳測(cè)試和微小電阻測(cè)試(0.1Ω--20Ω)等可選功能.是P66的升級(jí)版本

tescon-p70MB測(cè)試儀

的詳細(xì)介紹
tescon-p70MB測(cè)試儀
.測(cè)試點(diǎn)數(shù)   
(1) 輸入輸出板 64通道的開(kāi)關(guān)板(MPX) 
(2) 可測(cè)點(diǎn)數(shù) 標(biāo)準(zhǔn)配置320點(diǎn),*多可擴(kuò)展至1024點(diǎn) 
2.開(kāi)路/短路測(cè)試   
(1)編程方式 自動(dòng)讀取方式 
(2)測(cè)試方式 加電壓測(cè)電流(100mV) 
(3)判定值 網(wǎng)絡(luò)判定值20Ω; 
開(kāi)路判定值 開(kāi)路判定80Ω 
短路判定值 短路判定值5Ω; 
(4)測(cè)試電流 *大10mA 
(5)測(cè)試電壓 0.1V 
(6)Skip針數(shù) *多1024針 
(7)測(cè)試時(shí)間(速度) 2ms/針 
3.元件測(cè)試功能   
(1)測(cè)試步數(shù) *多160000步(多程序系統(tǒng)) 
(2)電阻測(cè)試   
測(cè)試方式 限定電流測(cè)試 
測(cè)試范圍 1.0Ω~40MΩ 
測(cè)試誤差 *大5% 
測(cè)試電壓 1Ω~4MΩ時(shí)0.4V; 4MΩ~40MΩ時(shí)4V; 
測(cè)試電流 0.1μA~10mA 
測(cè)試時(shí)間(速度) 2ms~40ms/步 
(3)電容測(cè)試   
測(cè)試方式 相位檢波及限電流積分方式 
測(cè)試范圍 10pF~25mF 
測(cè)試誤差 *大5% 
測(cè)試電壓 200mV(RMS)(相位檢波方式時(shí)) 
測(cè)試頻率 DC/1K/10K/100KHz 
測(cè)試時(shí)間(速度) 8ms~10ms/步 
(4)電感測(cè)試   
測(cè)試方式 相位檢波方式 
測(cè)試范圍 5uH~20H 
測(cè)試誤差 *大5% 
測(cè)試電壓 200mV(RMS) 
測(cè)試頻率 1K/10K/100KHz 
測(cè)試時(shí)間(速度) 8ms~10ms/步 
(5)二極管/三極管   
測(cè)試方式 向二極管的正向加電流,測(cè)量管腳的電壓值 
測(cè)試范圍 VF=0.01V~9.99V 
測(cè)試電流 10mA 
測(cè)試時(shí)間(速度) 2ms/步 
(6)功能測(cè)試   
測(cè)試方式 加載電壓進(jìn)行測(cè)試 
測(cè)試電壓 0.01V~9.99V 
測(cè)試電流 10mA 
測(cè)試時(shí)間(速度) 2ms/步