SRC-8001在線測(cè)試儀

SRC-8001在線測(cè)試儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介

　　SRC---*新力作，超時(shí)代高速電路板測(cè)試儀（電路板靜態(tài)測(cè)試儀）SRC8001
　　SRC8001系列ICT產(chǎn)品性能特點(diǎn)：
　　◆WIN2000／XP全中文簡(jiǎn)體／英文操作系統(tǒng)，軟件友好，運(yùn)行穩(wěn)定、**、可靠，便于操作！
　　◆PCB板圖形顯示功能，方便故障元件的定位查找。
　　◆配備光電保護(hù)功能，給予操作者*大限度的**保護(hù)。
　　◆超強(qiáng)的兼容性：市場(chǎng)各主流ICT機(jī)型治具（針床）、程序均能自由兼容和轉(zhuǎn)換。
　　◆強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)服務(wù)功能，可便于遠(yuǎn)程遙控調(diào)試、養(yǎng)護(hù)、設(shè)備自檢及軟件升級(jí)等。
　　◆采用ARM嵌入式處理器，提高了測(cè)試精度和穩(wěn)定性。
　　◆雙通道高速同步采集技術(shù)，大大提高了測(cè)試速度。
　　◆采用DDS信號(hào)源，不需校準(zhǔn)，頻率精度高。
　　◆模塊化硬件設(shè)計(jì)及可編程測(cè)試方法，使功能擴(kuò)展更加方便。
　　◆密碼保護(hù)功能：數(shù)據(jù)有管理員、工程師和操作工三個(gè)級(jí)別，使數(shù)據(jù)管理**可靠。
　　◆采用數(shù)據(jù)庫(kù)管理，方便數(shù)據(jù)的存取和統(tǒng)計(jì)。數(shù)字、圖表、曲線等豐富的統(tǒng)計(jì)功能，提供改進(jìn)工藝和質(zhì)量管理的*可靠數(shù)據(jù)。
　　◆全自動(dòng)放電功能，對(duì)電路板或部件進(jìn)行測(cè)試前后的放電，以保護(hù)系統(tǒng)及被測(cè)產(chǎn)品。
　　◆采用四針八線測(cè)試技術(shù)，排除引線電阻及探針接觸電阻，使微電阻測(cè)試更加穩(wěn)定。
　　◆靈敏的電壓感應(yīng)技術(shù)，自主開(kāi)發(fā)TEST　JET技術(shù)，可測(cè)IC引腳漏焊開(kāi)路、接插件等。
　　◆極高的測(cè)試覆蓋率和分辨率，可測(cè)光電耦合器、電位器、接插件等器件。
　　◆每步高達(dá)8針隔離，對(duì)元器件提供*佳、*高效率的測(cè)試條件?！?
　　◆完善的自檢功能：可對(duì)AC、DC、通道板、信號(hào)板、I／O卡等進(jìn)行檢查，其結(jié)果可自動(dòng)顯示是否正常及**內(nèi)容，使設(shè)備達(dá)到*穩(wěn)定的運(yùn)行狀態(tài)，保障工作前設(shè)備永處良好。
　　◆條碼輸入：將PCB的編號(hào)用條碼掃描，可以存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果，為生產(chǎn)或維修管理提供數(shù)據(jù)。
　　◆可對(duì)柔性電路板（FPC板）測(cè)試，線材及焊接器件測(cè)試。
　　◆自由選擇擴(kuò)充：標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)數(shù)320點(diǎn)，可依需要增配到1216（64點(diǎn)／塊開(kāi)關(guān)板）或2432點(diǎn)（128點(diǎn)／塊開(kāi)關(guān)板），滿足生產(chǎn)線不同產(chǎn)品的測(cè)試需求。
　　 SRC-8001在線測(cè)試儀
　　◆多種機(jī)體結(jié)構(gòu)可選，下拉嵌入式結(jié)構(gòu)完全兼容日、韓等ICT治具、程序。
　　◆中／英文多國(guó)語(yǔ)言可供選擇
　　◆3、4通道RELAY開(kāi)關(guān)板可選
　　◆四針測(cè)試法，可對(duì)小至0.01Ω電阻**測(cè)量且不受探針接觸及線纜電阻的影響。
　　◆小電容和電感測(cè)試穩(wěn)定、準(zhǔn)確，且不受溫度影響
　　◆測(cè)試電壓可達(dá)100V，所有測(cè)試點(diǎn)均可使用
　　◆RELAY耐壓高、導(dǎo)通電流大、電阻低等優(yōu)點(diǎn)，有利于配置功能測(cè)試
　　
　　SRC8001A
　　◆Broad　View代測(cè)板圖形顯示功能，實(shí)時(shí)顯示故障點(diǎn)，方便故障元件的查找。
　　◆遠(yuǎn)程網(wǎng)絡(luò)服務(wù)功能，可便于遠(yuǎn)程遙控調(diào)試、養(yǎng)護(hù)、設(shè)備自檢及軟件升級(jí)等。
　　◆靈敏的電壓感應(yīng)技術(shù)，自主開(kāi)發(fā)TEST-JET技術(shù)，可測(cè)試IC引腳漏焊開(kāi)路、接插件等。
　　◆四針八線及相位測(cè)試法，極大提高測(cè)試率。
　　◆三針測(cè)試及漏電流測(cè)試法的結(jié)合，幾乎涵蓋所有電解電容極性。