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SMT首件測(cè)試儀與AOI的區(qū)別

日期：2024-09-20 05:37
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摘要： SMT首件測(cè)試儀和AOI都是利用光學(xué)對(duì)PCBA進(jìn)行檢測(cè)，所以兩者經(jīng)常會(huì)被拿出來(lái)進(jìn)行比較，其實(shí)它們之間也存在本質(zhì)上的區(qū)別。 首先，AMT首件測(cè)試儀主要是通過(guò)AOI光學(xué)加LCR電橋?qū)MT貼片首件PCB進(jìn)行檢測(cè)。屬于SMT貼片加工生產(chǎn)線前的測(cè)試工站，一般是在換線或者換產(chǎn)品的時(shí)候使用較多，原理是通過(guò)掃描需要檢測(cè)的SMT貼片首件PCB，智能框獲取PCB實(shí)物掃描圖片，導(dǎo)入PCB元件貼片坐標(biāo)和BOM清單。軟件對(duì)PCB圖片、坐標(biāo)、BOM進(jìn)行智能合成和智能全局坐標(biāo)校準(zhǔn)，使得元件坐標(biāo)、BOM與圖片實(shí)物元件位置逐一對(duì)應(yīng)。通過(guò)導(dǎo)航測(cè)量目標(biāo)，LCR讀取數(shù)據(jù)自動(dòng)對(duì)...

SMT首件測(cè)試儀和AOI都是利用光學(xué)對(duì)PCBA進(jìn)行檢測(cè)，所以兩者經(jīng)常會(huì)被拿出來(lái)進(jìn)行比較，其實(shí)它們之間也存在本質(zhì)上的區(qū)別。

首先，AMT首件測(cè)試儀主要是通過(guò)AOI光學(xué)加LCR電橋?qū)MT貼片首件PCB進(jìn)行檢測(cè)。屬于SMT貼片加工生產(chǎn)線前的測(cè)試工站，一般是在換線或者換產(chǎn)品的時(shí)候使用較多，原理是通過(guò)掃描需要檢測(cè)的SMT貼片首件PCB，智能框獲取PCB實(shí)物掃描圖片，導(dǎo)入PCB元件貼片坐標(biāo)和BOM清單。軟件對(duì)PCB圖片、坐標(biāo)、BOM進(jìn)行智能合成和智能全局坐標(biāo)校準(zhǔn)，使得元件坐標(biāo)、BOM與圖片實(shí)物元件位置逐一對(duì)應(yīng)。通過(guò)導(dǎo)航測(cè)量目標(biāo)，LCR讀取數(shù)據(jù)自動(dòng)對(duì)應(yīng)相應(yīng)位置并進(jìn)行自動(dòng)判斷檢測(cè)結(jié)果，杜絕誤測(cè)和漏測(cè)，并自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)表存于數(shù)據(jù)庫(kù)。

AOI檢測(cè)是對(duì)產(chǎn)品走下SMT貼片加工生產(chǎn)線時(shí)的*終狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控，簡(jiǎn)單的說(shuō)就是光學(xué)檢測(cè)儀，原理就是通過(guò)三色光的組合反映到機(jī)臺(tái)和我們?cè)O(shè)置的參數(shù)的對(duì)比顯示給我們?nèi)搜劭吹?，但是它只能夠通過(guò)外觀檢測(cè)電路板的好壞，比如說(shuō)短路，少錫，缺件等等現(xiàn)象，但是像元件本身的**它就檢測(cè)不出來(lái)。當(dāng)然，AOI也可以檢測(cè)首件，但是效率等各方面都非常欠缺、比如BOM導(dǎo)入、測(cè)值等。

PTI500SMT首件測(cè)試儀，采用更先進(jìn)的統(tǒng)統(tǒng)視覺(jué)加AI算法，使得測(cè)試速度更快，直通率更高，全新的編輯語(yǔ)言，軟件操作更簡(jiǎn)單實(shí)用，新手也能很快適應(yīng)。