TEST-JET測試優(yōu)缺點(diǎn)

一，T/J測試優(yōu)點(diǎn)

1.      準(zhǔn)確度高：IC PIN有OPEN時(shí)，測量值降為20fF以下。

2.      穩(wěn)定度（STABILITY）高：同PCB同STEP測試誤差10%以內(nèi)。

3.      速度快：3ms/per lead。

4.      軟體準(zhǔn)備容易：有CAD讀取資料，電腦自動(dòng)學(xué)習(xí)（LEARNING）

5.      測試面廣：除有Frame之IC外，還可測試連接器，插座和膽電容極性。

6.      硬體組裝簡單、便宜：每顆IC多接一只Probe。

7.      治具彈性高：機(jī)重更換、停產(chǎn)時(shí)Probe可更換于不同治具上。

二，T/J測試缺點(diǎn)

1.      待測IC尺寸>SO14.

2.      Vcc&Ground Pin無法測試。

3.      Tire Pin超過四pin并聯(lián)時(shí)，無法測出Open Fail。

4.      若IC Pin與電容直接或經(jīng)過500歐姆電阻與電容相接，無法測試。

5.      若IC pin與Pad存在Open，但其間阻抗小于100K歐姆，無法測出。

6.      對于無Frame結(jié)構(gòu)之IC（BGA中心，Flip Chip，CSP等），此方法不適用。