文章詳情

ICT分為三大部份

日期：2024-09-20 10:39
瀏覽次數(shù)：1567
摘要：

    ▲Testhead  :ICT測試機(jī)臺部份
    ▲Computer :計(jì)算機(jī)部份
    ▲Support Bay:電源箱部份
    測試機(jī)臺架有測試治具 , 由氣壓(air)閥把治具鎖在機(jī)臺上 ; 測試時(shí)由使用真空( Vacuum )抽取治具內(nèi)的空氣 ; 使治具上下板的測試針,扎到板上的測試點(diǎn)上 ; 由機(jī)臺內(nèi)的控制卡在控制測試 .
    其測試功能有如使用數(shù)千個(gè)三用電表在測試，但不同處在于使用OP Amp反相放大電路來量測，除open、short testing外并且可測試電路板上單一零件；另外可以由電源箱提供電源, 上電至待測板上 ; 進(jìn)行數(shù)字測試 .
    程序的測試順序 :
      ( 一般測試分為此幾大項(xiàng) , 講解重點(diǎn) : 測試順序, 測試內(nèi)容 )
    ▲    Pins  test: 測試探針接觸待測板是否良好
    ▲  Shorts  test: 測試open及shorts
    ▲  Unpower  analog: 不上電的模擬組件測試,像拿電表量組件一樣
    ▲  Testjet: 利用電容原理,測試組件或connect開路
    ▲  Auto  inster: 用來測試無法使用Testjet 測試的connect,例如:橫向開口connect
    ▲  On  power: 由power  supply供電至待測板
    ▲  Digital  test: 數(shù)字組件或IC組件測試
    ▲ Analog  function: 一些必須上電測試的大電壓模擬