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ICT測試治具常見問題

日期：2024-09-20 11:01
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摘要：

    在使用ICT測試治具時很多人會因?yàn)椴患?xì)心遇到一些問題，下面為大家總結(jié)幾點(diǎn)ICT測試治具常見問題，并提出相應(yīng)解決方法。
 
    故障問題：ICT測試治具孔測點(diǎn)鉆孔鉆大導(dǎo)致探針接觸不到焊環(huán)出現(xiàn)假開路。
    對策：若只有少數(shù)的幾個，可用實(shí)物塞住原來的鉆孔，再手工鉆出合適的孔徑。
    此方法同樣適用于客戶資料出現(xiàn)變更而少數(shù)測點(diǎn)變更，可免去重新制作。
 
    故障問題：ICT測試治具測試點(diǎn)數(shù)太多測試機(jī)無法測試。
    對策：分網(wǎng)絡(luò)做兩個夾具測兩次。
    故障問題：調(diào)試模具時發(fā)現(xiàn)漏選點(diǎn)。
    對策：用一塊板或菲林拍在模具上，手工加鉆漏選孔，加繞線到網(wǎng)絡(luò)里重新讀板調(diào)試。
    若漏選在ICT測試治具密集孔處則這種方法難度很高。

    選擇ICT測試探針選對夾具成本關(guān)系*大，目前測試探針分國產(chǎn)、臺灣香港、進(jìn)口三種。測試探針的質(zhì)量主要體現(xiàn)在材質(zhì)、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制作工藝，目前包括國內(nèi)的產(chǎn)品其材質(zhì)很多用進(jìn)口材質(zhì)，所以除非是偷工減料一般探針材質(zhì)問題不是很大，針及套管的直徑精度方面國內(nèi)與臺灣香港的產(chǎn)品差不多，進(jìn)口稍好但一般影響不大，彈簧及鍍層的質(zhì)量這方面進(jìn)口產(chǎn)品比國內(nèi)要好很多，原因主要是工藝水平上的差別，國產(chǎn)的探針鍍層抗磨損較差鍍層容易脫落。

　　ICT測試治具即 In Circui Test測試治具的縮寫，就是在線檢測、測試治具。是對在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測試來檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件**的一種標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備。它主要用于檢查在線的單個元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開、短路情況，具有操作簡單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，ICT測試治具可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測試，故障覆蓋率高，對每種單板需制作專用的針床，這個針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測試治具。